Don Wexler

电子制造中的测试结果，不只取决于仪器能测什么，也取决于被测电路板每一次怎样被放置、固定和接触。Donald J. Wexler 与 Jeffrey L. Smith 名下的一项专利，把这层常被成品与软件遮住的工程工作留在了公开记录中：一套利用底部真空、顶部机械联动和双面弹簧探针的翻盖式夹具，试图让印刷电路板在一次又一次测试中，以可控方式到达相同的测量位置。

Donald J. Wexler ist in den belastbaren technischen Unterlagen nicht als Held einer breit erzählten Unternehmensgeschichte dokumentiert. Sichtbar wird er an einer engeren, für die Elektronikfertigung jedoch grundlegenden Stelle: als Mit-Erfinder einer Automated Test Engineering zugeordneten Vorrichtung, die eine bestückte Leiterplatte von beiden Seiten mit federnden Prüfstiften kontaktiert. Das 1993 eingereichte und 1995 erteilte Patent beschreibt nicht nur eine Klappmechanik. Es legt offen, wie Positionierung, Unterdruck, Kraftumkehr und senkrechter Kontakt zusammenspielen müssen, damit ein Prüfling wiederholt unter vergleichbaren Bedingungen gemessen werden kann.