Don Wexler

Ein Patent aus den 1990er Jahren, das der Automated Test Engineering zugeordnet ist, platziert Don Wexler inmitten eines präzisen Fertigungsproblems: Wie man Sonden mit kontrolliertem, wiederholbarem Kontakt auf beide Seiten einer bestückten Leiterplatte bringt und gleichzeitig den Zugang zur Platine unter Test erhält.

Donald J. Wexler ist in den belastbaren technischen Unterlagen nicht als Held einer breit erzählten Unternehmensgeschichte dokumentiert. Sichtbar wird er an einer engeren, für die Elektronikfertigung jedoch grundlegenden Stelle: als Mit-Erfinder einer Automated Test Engineering zugeordneten Vorrichtung, die eine bestückte Leiterplatte von beiden Seiten mit federnden Prüfstiften kontaktiert. Das 1993 eingereichte und 1995 erteilte Patent beschreibt nicht nur eine Klappmechanik. Es legt offen, wie Positionierung, Unterdruck, Kraftumkehr und senkrechter Kontakt zusammenspielen müssen, damit ein Prüfling wiederholt unter vergleichbaren Bedingungen gemessen werden kann.